年末盘点中国科技界，除了邹承鲁老人的逝去让人缅怀，几乎一地鸡毛。造假、剽窃、舞弊事件接二连三，尤以上海交通大学微电子学院前院长陈进“汉芯一号”事件为“可耻之最”。。

我说汉芯事件“一点技术含量都没有”，应不算枉屈。陈仅仅靠雇人磨掉从美国买来的芯片原有标志，加上新标志，就变成了“完全拥有自主知识产权”的“汉芯一号”，借此申请了数十个科研项目，骗取高达上亿元的科研基金，并荣任了交大微电子学院院长、博导以及“长江学者”。

无论如何评价“汉芯事件”对科技创新的极大腐蚀力与破坏性，似乎都不为过。因为该事件从表面上看具有评审程序的合法性。上海交大为此发表的声明曾表示，“汉芯”系列芯片的研发过程，是按照国家有关规定和程序进行的，其科研成果通过了有关部门组织的验收。知名专家的一致肯定，其过程和程序中规中矩的背后，恰恰是学术良知和职业操守的集体性沦丧。因为，只要将所谓的“汉芯一号”芯片拿到freescale公司测试一下，谎言不攻自破，要真正鉴别其真伪易如反掌。

整个科技评估和鉴定过程中，先后经过上海市及国家诸个相关部门审核。所谓的“汉芯系列DSP”申报了“国家863计划项目”，申请了12项国家专利，这些权威机构似乎级别越高，证伪的能力便越低。正是这种不负责任，偏听偏信，给虚无的“汉芯一号”涂了一层层耀眼的油彩，为其弄虚作假大行其道提供了舞台和便利。

“汉芯一号”作为“全部拥有自主知识产权”的创新产品，迎合了某些权力机关和官员急于出政绩、树形象的功利心理。中国亟待在高新科技领域有所突破，国家政府对自主创新寄予了深厚乃至热切的期待。尤其自主研发高性能芯片，实在是中国科技界的一大梦想。所以，陈进便利用这种期盼，通过伪造的“汉芯一号”，把自己打扮成自主创新典范的同时，也为某些人增添了政绩。在把陈进树立为典型和样板的过程中，一些机构扮演了极不光彩甚至助纣为虐的角色。

无论是无能被骗，还是失德腐败，抑或是好大喜功，无疑共同构成了学术腐败扩散、科技造假猖狂的温床。“汉芯一号”事件，不仅暴露了中国当下学术评估体系重关系、人云亦云、缺乏职业操守等种种弊端，也暴露了某些政府组织和科研管理机构急于求成的浮躁心态。

可至今，评审专家应该负什么责任，相关部门要负什么责任，依然含糊不清。有关部门发布的《国家科技计划实施中科研不端行为处理办法（试行）》，不单处理办法不够细密，操作上不够具体，而且对如何进行法律追究未作突出表述。

邹承鲁先生去世前曾直言：“光说是不行的，对学术不端行为，一定要严查严办。”而“汉芯事件”竟然没有人承担法律责任，如此宽容乃至宽纵，要克制当前的腐败之风，还科学界一片净土，委实难矣。